6月3日から5日まで開催されるSNEC 2026上海国際太陽光発電展示会が国家会展中心（上海）で盛大に開幕する。 Hikrobot は、太陽光発電の生産プロセスチェーン全体をカバーするインテリジェントなソリューションで注目を集めています。
Hikrobot は、シリコン ウェーハのスライシング、太陽電池の製造、モジュールのカプセル化から高精度の検査に至るまで、完全に自社開発したコア技術で製品の品質を支え、多くの現場の業界訪問者とともに PV とストレージの統合とスマート製造のアップグレードのための新しい道を模索しています。
スライスプロセスのミクロンレベルのセンシングにより、シリコンウェーハの厳密な品質管理が可能になります。
このソリューションでは、6 つの 3D プロファイル センサーを採用してウェーハの厚さを測定します。このシステムは、対向ペアのレイアウトに配置され、3 つのグループの測定データを同時に取得し、シリコン ウェーハ選別ステーションに適用できます。周囲光干渉、鏡面反射干渉、振動抑制に対するアルゴリズムを内蔵しており、測定精度と動作安定性が大幅に向上しています。
このソリューションは、3D カメラ内の検流計の高速振動によって駆動され、ターゲット表面全体にレーザー ラインを迅速に走査し、1 回のスキャンでジャンクション ボックスの完全な 3D トポグラフィーをキャプチャします。ジャンクションボックス上に乱雑に積み重ねられた黒いワイヤーハーネスであっても、カメラは洗練された完全な 3D 点群を生成して、迅速かつ正確な識別を実現し、PV モジュールの組み立て手順における高効率で柔軟な生産を促進します。
このソリューションは、大型短波長赤外線レンズおよび透過型近赤外線レーザー光源と組み合わせた 4K モノクロ ライン スキャン カメラを採用し、結晶の剥離、エッジの欠け、破片の破損、微小亀裂、セルの重なり、寸法 0.5 mm 以上の表面汚染などの欠陥を検出および分類します。
さらに、SVA インテリジェント収集カードの先駆的な採用により、産業用 PC のハードウェア リソース占有が大幅に削減され、一貫した検査スループットを確保しながら機器コストが削減されます。
このソリューションは、完成した太陽電池の表と裏の両面でカラーグレーディング選別を実行し、表面の損傷、汚れスポット、スクリーン印刷の不良、グリッド線の寸法の異常などの欠陥検査を行います。 50μm程度の微細な欠陥を鮮明に観察できます。
PERC、TOPCon MBB、SMBB、0BB、シングルセル、BC セル技術を含む複数のセル印刷フォーマットに対応し、お客様の多様な検査要件を満たします。
高効率な検査技術を完全自社開発し、多面的な品質保証体制を構築しています。
Hikrobot は、上記の生産プロセス以外にも、細胞表面の破片検査、CIS マクロ焦点ライン スキャン カメラ、SC5000X ラベル欠陥検査、スマート センサーの動的テストなど、高性能検査ソリューションのフル ラインアップを紹介します。
このシステムは、6 台のカメラの対向測距、4K ラインスキャン近赤外線イメージング、高精度 3D ビジョン、2.5D ドーム照明イメージングなどのコア技術を活用して、シリコンウェーハの傷や厚さの偏差、太陽電池の微小亀裂やエッジの欠け、モジュールのパッケージング欠陥、バッテリーセル表面の破片や傷など、さまざまな欠陥を正確に識別します。その最大検査精度はミクロンレベルに達し、太陽光発電およびエネルギー貯蔵製品のライフサイクル全体を通じて堅牢な品質障壁を形成します。
オンサイトのデモンストレーションでは、SC6500 ウェーハの識別、印刷後の PL 検査、コーティング後の外観検査、モジュール ラベルのラミネートとコード読み取り、産業用洗浄など、太陽光発電産業チェーン全体にわたるソリューションも取り上げ、太陽光発電部門全体の生産能力と製品品質の二重のアップグレードを推進します。
6月3日から5日まで開催されるSNEC 2026上海国際太陽光発電展示会が国家会展中心（上海）で盛大に開幕する。 Hikrobot は、太陽光発電の生産プロセスチェーン全体をカバーするインテリジェントなソリューションで注目を集めています。
Hikrobot は、シリコン ウェーハのスライシング、太陽電池の製造、モジュールのカプセル化から高精度の検査に至るまで、完全に自社開発したコア技術で製品の品質を支え、多くの現場の業界訪問者とともに PV とストレージの統合とスマート製造のアップグレードのための新しい道を模索しています。
スライスプロセスのミクロンレベルのセンシングにより、シリコンウェーハの厳密な品質管理が可能になります。
このソリューションでは、6 つの 3D プロファイル センサーを採用してウェーハの厚さを測定します。このシステムは、対向ペアのレイアウトに配置され、3 つのグループの測定データを同時に取得し、シリコン ウェーハ選別ステーションに適用できます。周囲光干渉、鏡面反射干渉、振動抑制に対するアルゴリズムを内蔵しており、測定精度と動作安定性が大幅に向上しています。
このソリューションは、3D カメラ内の検流計の高速振動によって駆動され、ターゲット表面全体にレーザー ラインを迅速に走査し、1 回のスキャンでジャンクション ボックスの完全な 3D トポグラフィーをキャプチャします。ジャンクションボックス上に乱雑に積み重ねられた黒いワイヤーハーネスであっても、カメラは洗練された完全な 3D 点群を生成して、迅速かつ正確な識別を実現し、PV モジュールの組み立て手順における高効率で柔軟な生産を促進します。
このソリューションは、大型短波長赤外線レンズおよび透過型近赤外線レーザー光源と組み合わせた 4K モノクロ ライン スキャン カメラを採用し、結晶の剥離、エッジの欠け、破片の破損、微小亀裂、セルの重なり、寸法 0.5 mm 以上の表面汚染などの欠陥を検出および分類します。
さらに、SVA インテリジェント収集カードの先駆的な採用により、産業用 PC のハードウェア リソース占有が大幅に削減され、一貫した検査スループットを確保しながら機器コストが削減されます。
このソリューションは、完成した太陽電池の表と裏の両面でカラーグレーディング選別を実行し、表面の損傷、汚れスポット、スクリーン印刷の不良、グリッド線の寸法の異常などの欠陥検査を行います。 50μm程度の微細な欠陥を鮮明に観察できます。
PERC、TOPCon MBB、SMBB、0BB、シングルセル、BC セル技術を含む複数のセル印刷フォーマットに対応し、お客様の多様な検査要件を満たします。
高効率な検査技術を完全自社開発し、多面的な品質保証体制を構築しています。
Hikrobot は、上記の生産プロセス以外にも、細胞表面の破片検査、CIS マクロ焦点ライン スキャン カメラ、SC5000X ラベル欠陥検査、スマート センサーの動的テストなど、高性能検査ソリューションのフル ラインアップを紹介します。
このシステムは、6 台のカメラの対向測距、4K ラインスキャン近赤外線イメージング、高精度 3D ビジョン、2.5D ドーム照明イメージングなどのコア技術を活用して、シリコンウェーハの傷や厚さの偏差、太陽電池の微小亀裂やエッジの欠け、モジュールのパッケージング欠陥、バッテリーセル表面の破片や傷など、さまざまな欠陥を正確に識別します。その最大検査精度はミクロンレベルに達し、太陽光発電およびエネルギー貯蔵製品のライフサイクル全体を通じて堅牢な品質障壁を形成します。
オンサイトのデモンストレーションでは、SC6500 ウェーハの識別、印刷後の PL 検査、コーティング後の外観検査、モジュール ラベルのラミネートとコード読み取り、産業用洗浄など、太陽光発電産業チェーン全体にわたるソリューションも取り上げ、太陽光発電部門全体の生産能力と製品品質の二重のアップグレードを推進します。
