Fokussieren Sie sich auf Kernprozesse, bieten Sie eine einheitliche Stütze für PV- und Energiespeicherung und intelligente Fertigungsupgrades!

Vom 3. bis 5. Juni wird die SNEC 2026 Shanghai International Photovoltaic Exhibition feierlich im National Exhibition and Convention Center (Shanghai) eröffnet. Hikrobot überzeugt mit intelligenten Lösungen entlang der gesamten Prozesskette der Photovoltaik-Produktion.

Vom Schneiden von Siliziumwafern über die Herstellung von Solarzellen, die Modulverkapselung bis hin zur hochpräzisen Inspektion untermauert Hikrobot die Produktqualität mit vollständig selbst entwickelten Kerntechnologien und erkundet zusammen mit zahlreichen Branchenbesuchern vor Ort neue Wege für die Integration von PV-Speichern und die Aufrüstung intelligenter Fertigung.

Die Mikrometer-Abtastung für Schneidprozesse ermöglicht eine strenge Qualitätskontrolle von Siliziumwafern.

Diese Lösung nutzt sechs 3D-Profilsensoren zur Messung der Waferdicke. Das in entgegengesetzter Paaranordnung eingesetzte System erfasst gleichzeitig drei Gruppen von Messdaten und ist auf Siliziumwafer-Sortierstationen anwendbar. Ausgestattet mit integrierten Algorithmen gegen Umgebungslichtstörungen, Spiegelreflexionsstörungen und Vibrationsunterdrückung bieten die Kameras eine deutlich verbesserte Messgenauigkeit und Betriebsstabilität.

Angetrieben durch die Hochgeschwindigkeitsoszillation des Galvanometers in der 3D-Kamera lässt die Lösung Laserlinien schnell über Zieloberflächen gleiten, um die vollständige 3D-Topographie von Anschlusskästen in einem einzigen Scan zu erfassen. Selbst für unordentlich gestapelte schwarze Kabelbäume auf Anschlusskästen generiert die Kamera verfeinerte und intakte 3D-Punktwolken, um eine schnelle und präzise Identifizierung zu ermöglichen und so eine hocheffiziente, flexible Produktion bei Montageverfahren für PV-Module zu ermöglichen.

Die Lösung nutzt 4K-Monochrom-Zeilenkameras gepaart mit großformatigen Kurzwellen-Infrarotobjektiven und Transmissions-Nahinfrarot-Laserlichtquellen, um Defekte wie Kristallablösung, Kantenabplatzungen, Fragmentbrüche, Mikrorisse, überlappende Zellen und Oberflächenverunreinigungen mit einer Abmessung von mehr als 0,5 mm zu erkennen und zu klassifizieren.

Darüber hinaus reduziert die bahnbrechende Einführung der intelligenten SVA-Erfassungskarte die Hardware-Ressourcenbelegung von Industrie-PCs drastisch, senkt die Gerätekosten und sorgt gleichzeitig für einen gleichbleibenden Inspektionsdurchsatz.

Diese Lösung führt eine Farbsortierung auf der Vorder- und Rückseite fertiger Solarzellen durch und prüft außerdem Fehler auf Oberflächenschäden, Flecken, schlechten Siebdruck und abnormale Gitterlinienabmessungen. Es ermöglicht eine scharfe Abbildung winziger Defekte mit einer Größe von nur 50 μm.

Das System ist mit mehreren Zelldruckformaten kompatibel, darunter PERC, TOPCon MBB, SMBB, 0BB, Schindelzellen- und BC-Zellentechnologien, und erfüllt vielfältige Inspektionsanforderungen von Kunden.

Durch die vollständige Eigenentwicklung hocheffizienter Inspektionstechnologie entsteht ein mehrdimensionales Qualitätssicherungssystem.

Über die oben genannten Produktionsprozesse hinaus präsentiert Hikrobot auch eine vollständige Palette leistungsstarker Inspektionslösungen, darunter die Inspektion von Zelloberflächenresten, CIS-Makrofokus-Zeilenkameras, die Inspektion von Etikettendefekten SC5000X und dynamische Tests für intelligente Sensoren.

Angetrieben durch Kerntechnologien wie die Entfernungsmessung mit sechs Kameras, 4K-Zeilenscan-Nahinfrarot-Bildgebung, hochpräzises 3D-Bild und 2,5D-Dome-Beleuchtungsbildgebung identifiziert das System präzise verschiedene Fehler: Kratzer und Dickenabweichungen des Siliziumwafers, Mikrorisse und Kantenabplatzungen von Solarzellen, Modulverpackungsfehler sowie Ablagerungen und Kratzer auf Batteriezellenoberflächen. Seine maximale Prüfgenauigkeit erreicht den Mikrometerbereich und bildet eine robuste Qualitätsbarriere über den gesamten Lebenszyklus von PV- und Energiespeicherprodukten.

Vor-Ort-Vorführungen umfassen auch Lösungen, die die gesamte PV-Industriekette abdecken: SC6500-Wafer-Identifizierung, PL-Inspektion nach dem Druck, Inspektion des Erscheinungsbilds nach der Beschichtung, Laminieren und Codelesen von Moduletiketten sowie industrielle Reinigung, was zu zweifachen Verbesserungen der Produktionskapazität und Produktqualität im gesamten Photovoltaiksektor führt.